今日，Mettler-Toledo 產品檢測部門自豪地宣布推出創新型 X52 雙能 X 射線檢測係統，讓其 X2 係列變得更加完善。 X52專為滿足包裝產品中具有挑戰性應用的需求而設計，以令人難以置信的價格在檢測能力方麵樹立了新標準。X52 的專有軟件可在單能、雙能或兩種模式之間無縫轉換，從而提高了適應能力，並且可根據應用優化係統性能。

在單能模式下，X52 可根據材料成分識別各種汙染物，包括玻璃、金屬、礦石、鈣化骨、高密度塑料與橡膠化合物，通過全麵檢測確保產品安全與質量。在雙能模式通過分析材料的密度進一步提高了準確性，確保先進的檢測水平，以保護消費者的健康並符合行業標準。

X52 X 射線檢測係統具有出色的效率與準確性，可以無縫檢測異物，同時完成各種質量保證檢查。X52 采用先進的技術，可明顯降低誤剔率，輕鬆區分真正的汙染物與產品之間的差異。這種精確度大幅減少了不必要的停產與生產中斷，讓製造商能夠維持運營並減少不必要的停機時間。X52 通過大幅延長正常運行時間與減少浪費，提高了生產效率，降低了總成本，為 X 射線檢測技術樹立了新的標準。
X52 單能與雙能 X 射線檢測係統專為麵向未來的製造運營而設計，可快速適應不斷變化的產品線與應用。由於其適應性強，因此不僅可確保長期可靠性，而且通過將多種檢測功能整合到一台機器中，減少了對其他設備的需求，從而提高了可持續性並節省了成本。這種方法讓製造商在應對不斷變化的行業環境時安心無憂，可確保其高效地滿足當前與未來的生產需求。

用於高對比度產品的先進技術
X52 配備了先進的功能，由於采用專有的高級材料甄別 (AMD) 與 ContamPlus™ 軟件，因此具有更高靈敏度。X52 采用先進的 X 射線技術，能夠以卓越的準確性檢測包裝產品的成分。AMD 雙能軟件增強了係統區分材料的能力，即使在產品重疊或厚度不同等具有挑戰性的情況下，也能夠實現精確的汙染物檢測。這有助於確保最終產品更安全、更可靠且質量更高，讓您安心無憂。

提高準確性與可靠性
此外，X52 采用了 HiGain+ DE 檢測機技術，以更高的準確性與可靠性超越了傳統解決方案。Mettler-Toledo 的 HiGain+ DE 檢測機具有出色的靈敏度與分辨率，可提高材料分析的準確性。這種先進的技術可在不影響效率的情況下進行全麵檢測，滿足各行各業製造商不斷變化的需求。

大幅延長正常運行與提高性能
除了先進的檢測功能外，X52 還為製造商帶來了諸多實用好處，首先是其節省空間的設計。它采用緊湊設計，可在不影響性能的情況下充分生產廠的場地空間。此外，X52 享有 Mettler-Toledo 全球服務專家網絡提供的全麵服務與支持，提供遠程與現場支持，讓製造商能夠大幅延長正常運行時間與提高性能。

簡化合規工作
製造商現在可以通過 ProdX™ 輕鬆遵守行業標準並簡化合規性，ProdX™ 是 Mettler-Toledo 提供的數據管理軟件，可提供完整的監管文件記錄。X52 的用戶友好界麵可輕鬆訪問檢測數據，方便做出快速決策與采取主動的質量控製措施。

追求卓越
X52 體現了 Mettler-Toledo 追求卓越的承諾，將智能工業設計與簡化方法相結合。從提高設備整體有效性 (OEE) 到降低總擁有成本 (TCO)，X52 可長時間保持出色的性能。

完善 X2 係列
X52完善了 X2 係列 X 射線檢測係統的陣容。
除了 X52 之外，X2 係列還包括另外兩個型號：X12 與 X32。所有這些提供多種輸送線配置，分為 800 毫米、1300 毫米、1800 毫米與 2000 毫米輸送線長度：

• X12 高性能 X 射線檢測係統：這款高性能單通道 X 射線檢測係統采用標準配置，具有吸引人的性價比，配備 HiGain 檢測機，可生成更清晰的圖像，確保出色的汙染物檢測能力。

• X32 高級 X 射線檢測解決方案：此 X 射線檢測解決方案配備 HiGain+ 檢測器，提供標準配置和定製配置，具有單通道或多通道功能，增強靈敏度和產品完整性檢查性能。

Mettler-Toledo X 射線檢測部門全球銷售與產品管理主管 Mike Pipe 介紹說：“X52 X 射線檢測係統標誌著產品檢測技術的重大飛躍。”X52 采用前瞻性設計 ，即使在機具挑戰性的包裝中也能檢測到多餘的汙染物，讓製造商為將來做好準備。其出色的性能、創新功能與全麵支持為產品完整性與可靠性樹立了新標準。我們很高興能夠為製造商提供他們現在和將來提高產品安全性、質量與合規性所需的工具。”

有關 X52 X 射線檢測係統與 Mettler-Toledo 其他產品的更多信息，請單擊 此處或訪問 www.mt.com/xray-x52-pr。
欲了解更多關於X2係列x射線檢測係統和其他檢測技術的信息，請訪問即將在上海國家會展中心舉辦的第二十九屆上海國際加工包裝展覽會（2024年6月19日至21日）51F40展位。