安捷倫科技隆重推出新一代雙向觀測原子發射光譜儀
創新的 ICP-OES 係統, 分析樣品更快速、更省氣
2014年7月1日,北京——安捷倫科技公司(紐約證交所: A)今日推出了 Agilent 5100 電感耦合等離子體發射光譜儀 (ICP-OES),鞏固了自己作為原子光譜儀領域創新者的地位。即使麵對最複雜的樣品,全新的係統都能更快速、更省氣地分析樣品,且不會影響其分析性能。這款全新的儀器是實驗室進行食品、環境、藥物檢測以及采礦和工業應用的理想選擇。
“新係統避免了與傳統的雙向觀測分析相關的速度和穩定性方麵常見的影響,這使得已經是 ICP-OES 領域性能領導者的安捷倫又為行業標準樹立了新的標杆,”安捷倫光譜產品副總裁 Philip Binns 說道。
傳統的雙向觀測係統需要對每個樣品進行多達 4 次的連續測量,而 Agilent 5100 僅需 1 次,這得益於它創新的智能光譜組合技術和垂直火炬同步雙向觀測技術。這些創新可讓客戶以更快的速度、更高的準確度和易用性進行分析,大大節省了時間和運行成本。
“安捷倫的目標始終都是提供最快速、最高效的原子光譜係統,以應對最複雜的樣品,” Binns 說道, “今年,隨著 4200 MP-AES、7900 ICP-MS 以及現在的 5100 ICP-OES 的麵世,我們繼續在元素分析的創新方麵引領著行業發展,這也印證了我們致力於根據客戶的應用需求提供最佳工具的一貫承諾。”
Binns 強調,Agilent 5100 ICP-OES 分析每個樣品的分析速度比市場上與之競爭的ICP-OES係統快 55%,所需氣體僅有其50%,“市場上沒有其它係統可以與新的 5100 之性能或低運行成本相匹敵的。”他說。
有了這一全新的係統,客戶就能使用直觀的 ICP Expert 軟件和智能光譜組合技術來實現方法開發。一次即可測量所有波長,具有極高的精密度,且無任何延遲。係統的垂直炬管可以應對最具挑戰性的樣品(從高基質樣品到揮發性有機溶劑),並且分析結果具有高度可靠性。
Agilent 5100 有三種配置,均配備了一個耐用的垂直炬管:
同步垂直雙向觀測(SVDV)能夠以最少的氣體用量提供最快的分析速度
垂直雙向觀測(VDV)可提供高通量,如需更高通量,可現場升級至 SVDV 配置
徑向觀測(RV)是需要快速、高性能徑向 ICP-OES 的實驗室的理想選擇)
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